하나-HBM (Human Body Model)  인체에 대전된 정전기 방전
       수천 ~ 수만V 까지 대전된 작업자가 부품에 접촉하는 경우 정전기가 순간적으로 
       방전되어 수 KW의 전력이 흐르면서 부품을 파괴하게 됨

두울-CDM (Charged Device Model)  부품에 대전된 정전기 방전
       부품의 운반, 보관, 취급 등의 과정에서 접촉성 대전이 이루어져 부품이 정전압을 
       유지하고 있다가 접지에 접촉되어 순간적으로 방전을 일으켜 파괴하게 됨.

세엣-FIM (Field Induced Model)  정전기장에 대전된 부품의 방전
       전,자기장에 노출된 부품에서 IC 내부의 전하가 IC표면위로 끌려와 IC 내부의 Data를
       틀리게 만들어 오 동작을 발생시킴.

       전하 Q가 만들어 내는 정전기 전계의 강함은  E = Q / 4πε。r²[V/m]
       로써 정전기 유도량은 전하 Q의 크기에 비례하고, 거리의 제곱에 반비례한다.

네엣-MM (Machine Model)  부품 취급 설비에 대전된 정전기 방전
       Ex) IC Mount 시 설비를 통한 누설전류가 IC에 유입되어 파괴됨.

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